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　　1.df/dt測試范圍

　　測試“df/dt閉鎖值”時，在此范圍內(nèi)逐點進(jìn)行試探測試，每次測試時都從頻率始值下滑（或上滑）至終值，下滑（或上滑）的df/dt值在該范圍內(nèi)逐點變化，試探至某一輪試驗至保護(hù)動作，則測出此時的df/dt閉鎖的邊界值。因為保護(hù)在大于整定的df/dt值下滑時閉鎖，所以，一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于保護(hù)整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為小于保護(hù)整定的閉鎖值，即測試保護(hù)從不動作到動作，測出保護(hù)的df/dt閉鎖值。

　　2.頻率變化范圍

　　每輪試驗頻率從始值下滑（或上滑）至終值。始值一般為50Hz，變化終值不能設(shè)置太小，因為一般裝置都有一個固有的“閉鎖頻率”，頻率太低了，裝置將會被閉鎖不出口。

　　注意：做該試驗時頻率變化前延時一般不能太小，以使保護(hù)有足夠時間解除閉鎖狀態(tài)。

　　二、微機繼電保護(hù)測試儀dv/dt閉鎖：

　　這個測試頁與上“df/dt閉鎖”很相似，區(qū)別在于每輪測試變化的是dv/dt值。

　　1.dv/dt測試范圍

　　測試“dv/dt閉鎖值”時在此范圍內(nèi)逐點進(jìn)行試探測試，每次測試時電壓都從電壓變化始值下滑至終值，下滑的dv/dt值在該范圍內(nèi)逐點變化，試探至某一輪試驗如果保護(hù)動作，則測出dv/dt閉鎖的邊界值。

　　因為裝置在大于整定的dV/dt閉鎖值時處于閉鎖狀態(tài)，所以，一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值。即試驗從裝置不動作做到動作，從而測出裝置的dv/dt閉鎖值。

　　2.電壓變化范圍

　　為了模擬電壓下降的過程，一般應(yīng)設(shè)電壓的“變化始值”大于“變化終值”。同時，為了保證低周裝置不因低電壓而閉鎖，因此設(shè)置的電壓“變化終值”應(yīng)大于裝置定值菜單中整定的低電壓閉鎖值。